Optical characterizations of lightly doped (PbS)1−x Znx thin films influenced by film thickness and annealing temperature for applications in highly intensive radiation systems
CC-BY
Lưu vào:
Tác giả chính: | Shokr, E. Kh., Mohamed, W. S., Adam, A. G. |
---|---|
Định dạng: | Sách |
Ngôn ngữ: | English |
Nhà xuất bản: |
Springer
2023
|
Chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-023-11274-0 https://dlib.phenikaa-uni.edu.vn/handle/PNK/9478 |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên đánh dấu biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Surface and thin film analysis : a compendium of principles, instrumentation, and applications /
theo: Friedbacher, Gernot
Nhà xuất bản: (2011) -
Study of cell protective effects of alcohols against UV-C radiation and comparison to gamma radiation
theo: Barbora, Neužilová, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023) -
Effective removal of Pb(II) and Cu(II) from aqueous solutions using a hybrid composite of fuller's earth, aluminum silicate and chitosan
theo: Heba, Kandil, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023) -
Prediction model of the hardness of waterlogged archaeological wood based on NIR spectroscopy
theo: Liu, Tiantian, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023) -
Predicting EHL film thickness parameters by machine learning approaches
theo: Max, Marian, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023)