Optical characterizations of lightly doped (PbS)1−x Znx thin films influenced by film thickness and annealing temperature for applications in highly intensive radiation systems

CC-BY

Lưu vào:
Hiển thị chi tiết
Tác giả chính: Shokr, E. Kh., Mohamed, W. S., Adam, A. G.
Định dạng: Sách
Ngôn ngữ:English
Nhà xuất bản: Springer 2023
Chủ đề:
XRD
Truy cập trực tuyến:https://link.springer.com/article/10.1007/s10854-023-11274-0
https://dlib.phenikaa-uni.edu.vn/handle/PNK/9478
Từ khóa: Thêm từ khóa
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên đánh dấu biểu ghi này!

Tài liệu tương tự