One More Evidence Supporting Damage Growth Inside Silicon MEMS Structures from Comparison of Strength Affected by Cyclic Compressive Stress
Recently, dislocation in single-crystal silicon has been confirmed to be induced by fatigue. It was found that the fatigue lifetime of silicon is likely to be dominated by accumulation of crystal defects, i.e., dislocations. In previous studies, crystal d
Lưu vào:
Tác giả chính: | Vu Le Huy, Shoji Kamiya |
---|---|
Định dạng: | Bài trích |
Ngôn ngữ: | eng |
Nhà xuất bản: |
Lecture Notes in Mechanical Engineering
2021
|
Chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-030-69610-8_110 https://dlib.phenikaa-uni.edu.vn/handle/PNK/2734 |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên đánh dấu biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Compressive strength of beech and birch at different moisture contents and temperatures
theo: Al-musawi, Hajir, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023) -
Silicones : Chemistry and Technology
Nhà xuất bản: (1991) -
Silicon VLSI technology : fundamentals, practice, and modeling /
theo: Plummer, James D.
Nhà xuất bản: (2000) -
Nghiên cứu chế tạo vật liệu polyme composite trên cơ sở nhựa silicon biến tính gia cường bằng cốt liệu thạch anh dạng hạt
theo: Phạm, Minh Kỳ
Nhà xuất bản: (2023) -
Freestanding carbon fiber-confined yolk-shelled silicon-based anode for promoted lithium storage applications
theo: Jia, Dong-Chen, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023)