| LEADER | 01027nam a22002177a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 005 | 20200501230735.0 | ||
| 008 | 200404s2004 ne |||||||||||||||||eng|| | ||
| 020 | |a 9036520290 | ||
| 040 | |a Phenikaa-Uni |b vie |c Phenikaa-Uni |e aacr2 | ||
| 041 | 0 | |a eng | |
| 044 | |a ne | ||
| 082 | 0 | 4 | |2 23 |a 621.31 |b M510T 2004 |
| 100 | 1 | |a Nguyen, Van Hieu | |
| 245 | 1 | 0 | |a Multilevel interconnect reliability on the effects of electro - thermomechanical stresses : |b Dessertation / |c Nguyen Van Hieu |
| 260 | |a Netgerlands : |b [s.n.], |c 2004. | ||
| 300 | |a 135 tr. ; |c 24 cm. | ||
| 650 | 0 | 4 | |a Cơ điện |
| 942 | |2 ddc |c SACH | ||
| 999 | |c 2740 |d 2740 | ||
| 952 | |0 0 |1 0 |2 ddc |4 0 |6 621_310000000000000_M510T_2004 |7 0 |9 11400 |a PHENIKAA |b PHENIKAA |c PNK_105 |d 2020-04-15 |l 0 |o 621.31 M510T 2004 |p 00009891 |r 2020-04-15 |w 2020-04-15 |y SACH | ||
| 952 | |0 0 |1 0 |2 ddc |4 0 |6 621_310000000000000_M510T_2004 |7 1 |9 11401 |a PHENIKAA |b PHENIKAA |c PNK_105 |d 2020-04-15 |l 0 |o 621.31 M510T 2004 |p 00009892 |r 2020-04-15 |w 2020-04-15 |x 1 bản đọc tại chỗ |y SACH |z Đọc tại chỗ |x 1 bản đọc tại chỗ | ||
