Fatigue Lifetime Prediction of Arbitrarily-Shaped MEMS Structures
Lưu vào:
Tác giả chính: | Vu Le Huy |
---|---|
Đồng tác giả: | Shoji Kamiya |
Nhà xuất bản: |
2020
|
Truy cập trực tuyến: | https://dlib.phenikaa-uni.edu.vn/handle/PNK/170 https://doi.org/10.1007/s00542-018-4253-z |
Từ khóa: |
Thêm từ khóa
Không có từ khóa, Hãy là người đầu tiên đánh dấu biểu ghi này!
|
Tài liệu tương tự
-
Irregular alignment of arbitrarily long DNA sequences on GPU
theo: Esteban, Perez-Wohlfeil, và những người khác
Nhà xuất bản: (2023) -
Enhanced long-lived dark photon signals at lifetime frontier detectors
theo: Ming xuan Du, và những người khác
Nhà xuất bản: (2022) -
One More Evidence Supporting Damage Growth Inside Silicon MEMS Structures from Comparison of Strength Affected by Cyclic Compressive Stress
theo: Vu Le Huy, và những người khác
Nhà xuất bản: (2021) -
MEMS : introduction and fundamentals /
Nhà xuất bản: (2006) -
Kỹ nghệ phần mềm /
theo: Lê, Văn Phùng
Nhà xuất bản: (2014)