Tan, C. M. (2010). Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific.
Trích dẫn theo kiểu ChicagoTan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific, 2010.
Trích dẫn MLATan, Cher Ming. Electromigration in ULSI Interconnections. Singapore ; Hackensack, NJ: World Scientific, 2010.
Cảnh báo! Những trích dẫn này có thể không chính xác 100%.